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3938掃描電遷移率粒徑譜儀

型    號:
所屬分類:TSI儀器系列
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TSI 的掃描電遷移率粒徑譜儀廣泛用于測量空氣中的顆粒尺寸分布的標準。這一系統(tǒng)也經(jīng)常用來使懸浮在液體中的顆粒的顆粒尺寸的測量精度。美國國家標準與技術研究所( NIST )使用一個TSI DMA 尺寸為 60 nm 和 100 nm 的標準尺寸的參考材料。

3938掃描電遷移率粒徑譜儀產(chǎn)品概述:

3938掃描電遷移率粒徑譜儀產(chǎn)品詳情

TSI 的掃描電遷移率粒徑譜儀廣泛用于測量空氣中的顆粒尺寸分布的標準。這一系統(tǒng)也經(jīng)常用來使懸浮在液體中的顆粒的顆粒尺寸的測量精度。美國國家標準與技術研究所( NIST )使用一個TSI DMA 尺寸為 60 nm 和 100 nm 的標準尺寸的參考材料。電遷移率粒徑譜儀是一個謹慎的粒徑譜儀技術,數(shù)濃度沒有假設的粒度分布的形狀直接測量。該方法是獨立的顆?;蛄黧w的折射率,并具有高度的尺寸精度和測量重復性。 TSI 模型 3938 是電遷移率粒徑譜儀的第三代;可信的研究人員超過 30 年。

3938掃描電遷移率粒徑譜儀特點和優(yōu)點

•高分辨率數(shù)據(jù):多達 167 個通道

•廣泛的尺寸范圍:從 2.5 nm 到 1000 nm

• ISO 15900:2009 兼容

•快速測量:< 10 秒掃描

•寬的濃度范圍內, 107 個顆粒每立方厘米

Z大的靈活性•組件的設計

沒有電腦的操作所需的•觸摸屏控制

•易于安裝與不安裝工具和自動發(fā)現(xiàn)部件

•離散粒子測量:適用于多模樣本

•獨立的顆粒和流體的光學性質

•寬范圍的系統(tǒng)的選擇:水或丁醇 CPC 選擇;傳統(tǒng)的或非放射性中和劑的選擇

應用

•納米技術研究和材料的合成

•大氣研究和環(huán)境監(jiān)測

•燃燒和發(fā)動機排氣的研究

•室內空氣質量的測量

•核 / 冷凝的研究

•吸入毒理學研究

內容包括

•靜電分類器與您選擇的 DMA 柱

•氣溶膠儀器 ® 軟件

數(shù)據(jù)采集計算機必須單獨購買。


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